华为OD机考双机位C卷 - FLASH坏块监测系统（Java & Python & JS & GO & C++ & C）

FLASH坏块监测系统

2026华为OD机试双机位C卷 - 华为OD上机考试双机位C卷

华为OD机试双机位C卷真题目录点击查看: 【全网首发】2026华为OD机位C卷机考真题题库含考点说明以及在线OJ（OD上机考试双机位C卷）

题目描述

开发一个 FLASH 坏块监测系统，能够监测 FLASH 中坏块的数量。FLASH 介质以一个大小为 m×n的二维二进制矩阵表示，其中：0 表示正常，1 表示异常。最初，FLASH 介质中的所有单元格都是正常（即，所有单元格都是 0）。系统运行过程中，FLASH 坏块不断产生：随着系统持续运行，某一个时刻 i，FLASH 介质中的某个单元格 (ri,ci)由正常变为异常。返回一个整数数组 result，其中 result[i] 是 FLASH 介质中第 i 个时刻 (ri,ci)位置变为异常后，FLASH 中坏块的数量。坏块的定义：坏块是由 4 个方向相连的异常单元格组成的“极大”块。你可以假设给定的 FLASH 介质外的所有点都是正常的。

输入描述

第一行输入和第二行输入分别为 m 和 n，表示 FLASH 介质是 m×n的二维二进制矩阵。第三行开始的每一行表示第 ii 个时刻新增的异常位置 (ri,ci)最多 1000 个。

注意：

1≤m,n≤10^3
1≤m×n≤10^4
0≤ri<m
0≤ci<n

输出描述

一个整数数组 result，其中 result[i] 是 FLASH 介质中第 i 个时刻 (ri,ci)位置变为异常后，FLASH 中坏块的数量。

示例1

输入

4
3
1,1
2,2
3,2
0,2
1,2

输出

[1,2,2,3,1]

说明

起初，FLASH 介质被认为全部是正常的（0 代表正常，1 代表异常）。时刻 1：位置 [1,1] 由正常状态变为异常状态。此时存在 1 个坏块。时刻 2：位置 [2,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 2 个坏块。时刻 3：位置 [3,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 2 个坏块。时刻 4：位置 [0,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 3 个坏块。时刻 5：位置 [1,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 1 个坏块。

示例2

输入

1
1
0,0

输出

[1]

说明

解题思路

核心思想

本题要求在 $M \times N$ 的网格中，动态添加异常点，并计算每次添加后“坏块”的数量。坏块定义为由 4 个方向相连的异常单元格组成的极大块。这实际上是连通分量（Connected Components）问题。

并查集（Union-Find）：
- 并查集是处理连通性问题的最佳工具。
- 我们将每个网格位置 $(r, c)$ 映射为一个唯一的整数 ID（例如 r * N + c）。
- 初始时，所有点都是正常的，坏块数量为 0。
- 当一个位置变为异常时：
  1. 首先假设它是一个新的独立坏块，count 加 1。
  2. 然后检查它上下左右 4 个相邻位置。
  3. 如果相邻位置也是异常点，尝试将当前点与相邻点所在的连通分量进行合并（union 操作）。
  4. 如果两个点原本不在同一个连通分量中，合并成功，连通分量数量 count 减 1。
动态更新：
- 题目给出了操作序列，我们只需要按顺序处理每次更新，利用并查集维护当前的连通分量数量即可。
- 注意：如果一个位置已经是异常点，再次变为异常，状态不变，坏块数量也不变。

复杂度分析

时间复杂度： $O(K \cdot \alpha(MN))$ ，其中 $K$ 是操作次数， $MN$ 是网格大小， $\alpha$ 是反阿克曼函数（接近常数）。
空间复杂度： $O(MN)$ ，用于存储并查集的父节点数组和网格状态。

华为OD机考双机位C卷 - FLASH坏块监测系统 （Java & Python & JS & GO & C++ & C）