【公开课】芯片ATE测试—93K机台与Smartest软件介绍

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当前,随着中国集成电路产业的高速发展,芯片测试作为确保产品良率与可靠性的关键环节,其技术人才缺口日益凸显。尤其在测试设备操作层面,行业普遍面临两大痛点:

  • 一方面,高端ATE测试平台(如93K系统)操作复杂,入门学习曲线陡峭,大量电子相关专业学生因缺乏实操机会而难以跨过求职门槛;
  • 另一方面,企业急需既理解测试原理又能快速上手的工程师,传统培训模式往往重理论轻实践,导致学员在实际配置测试参数(如Timing时序设置、Levels电平调节)时频频失误,甚至引发批量性芯片失效风险。

在此背景下,本次公开课以工业级93K测试机台与Smartest软件为核心载体,旨在搭建从理论认知到实战操作的桥梁,帮助学习者突破“纸上谈兵”的困局。

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本次公开课将聚焦93K测试系统的基础架构与Smartest软件的核心操作逻辑。课程首先解析93K测试机的硬件组成与信号通路设计,阐明引脚定义、电平规范、时序控制三大参数对芯片功能测试的决定性影响;随后通过仿真环境演示Device Directory的创建流程,并手把手指导Functional Test(功能测试项)的基础配置。

我们相信,通过两小时的系统导览,学员不仅能构建ATE测试的底层认知框架,更将掌握企业级测试规范的设计思维,为后续深入学习或职业转型奠定关键基石。

公开课时间: ******2025年6月29日星期日晚19:00 
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直播方式:

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一、课程介绍

本课程主要分为以下五个部分;

第一部分:****

1.93K测试系统介绍(2课时)

2.Smartest软件介绍(2课时)

3.Pin Configuration介绍(2课时)

4.如何设置Levels(2课时)

5.如何设置Timing(2课时)

6.Part 1 Offline实验练习( 2 课时)****

第二部分:****

7.Vectors/Pattern介绍(2课时)

8.Loadboard Calibration介绍(2课时)

9.如何创建一个Testflow(2课时)

10.Part 2 Offline实验练习( 2 课时)****

第三部分:****

11.Universal Test Method介绍(2课时)

12.DC Testing介绍(2课时)

13.Digital Debugging介绍(2课时)

14.Test Method and Test Hardware Debugging介绍(2课时)

15.Part 3 Offline实验练习( 2 课时)****

第四部分:****

16.Data Logging与量产测试执行介绍(2课时)

17.Device Characterization介绍(2课时)

18.Shmoo与Data Analysis工具介绍(2课时)

19.Part 4 Offline实验练习( 2 课时)****

第五部分:****

20.Pin Margin工具介绍(1课时)

21.X-Mode介绍(1课时)

22.Multiport介绍(1课时)

23.93K测试Pattern转换(1课时)

24.Part 5 Offline实验练习( 2 课时)****

二、课程内容

本课程总共规划44个课时。其中第一到第二部分共20个课时,第三~第四部分共18个课时,第六部分约6个课时。

课程的第一部分主要介绍93K测试系统与Smartest软件,包括93K测试系统的硬件陪住与Smartest软件框架,另外还介绍了如何设置Pin Configuration、Levels与Timing。

第二部分主要介绍Vectors/Pattern,还详细介绍了如何在Smartest软件中快速建立一个Testflow。

第三部分主要介绍DC测试与Test Method,还介绍了DC测试的调试环境与调试工具。

第四部分主要介绍Device Characterization相关内容,包括Smartest自带的Shmoo与数据分析工具,另外还详细介绍了Data Logging与量产测试程序执行相关的内容。

第五部分主要介绍Pin Margin工具、X-Mode以及Multiport相关内容,另外还介绍了93K测试Pattern的转换方法与常用工具。

其中每个部分最后一个小节都安排了Offline上机实验练习,帮助大家理论联系实践,将课堂上学到的内容融会贯通。

Offline实验练习安排:****

1.在Smartest软件环境中创建一个 Device Directory,查看生成的Device Directory的结构;定义pins、levels、timing,验证所设置的timing;

2.在Smartest软件环境中打开并编辑一个Pattern,创建一个Testflow,插入一个functional测试项、一个continuity测试项、一个leakage测试项;

3.在Smartest软件环境中创建一个project和一个class,添加基于Test method的测试项到Testflow中,添加基于PPMU的DC测试项,添加基于DPS的DC测试项;

4.加载并修改之前建立好的Testflow,设置Data Logging,添加Characterization测试项,使用Shmoo工具、数据分析工具进行简单的调试,并创建一个量产测试程序; 

5.加载并修改之前建立好的Testflow,设置并执行Pin Margin工具;使用常用的工具对93K测试Pattern进行转换练习;

三、面向对象

1.对芯片生产测试主要是ATE测试感兴趣,但苦于无法入门的同学。

2.大学阶段是通信、自动化、电子信息技术、计算机等电子相关专业,毕业后想从事半导体行业工作的同学。

3.非本方向但是对芯片ATE测试感兴趣,想转行做ATE测试的同学。

4.学习过杰哥第一阶段ATE测试基础课程的同学。

四、讲师资质

     讲师硕士毕业于上海交通大学自动化系,毕业后在德州仪器上海研发中心从事芯片ATE测试工作超过5年,目前在国内一家AI芯片企业继续从事芯片ATE测试技术专家与管理相关工作。

      讲师在芯片ATE测试领域深耕十年,累计超过10款以上不同芯片项目从研发到大规模量产的成功经验。******

五、公开课与试听课

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