08 第8章作业 | 嵌入式1. 用实验验证，对于有数据的某扇区，如果没有擦除（Flash_erase），可否写入新数据

1. 用实验验证，对于有数据的某扇区，如果没有擦除（Flash_erase），可否写入新数据？注：扇区号为学号后2位，数据文本中要有姓名。

初次写入值：

Hello! My name is LiuTing_Perilt

未擦除后往同一位置写入：

Test NO Flash_earse

测试结果显示：

针对扇区中同一位置的数据，没有擦除再次写入，则会覆盖掉原来的数据

[0-32]已写入:

Hello! My name is LiuTing_Perilt

未擦除扇区后往[33,65] 写入:

Test NO Flash_earse

测试结果显示： 扇区也可正常写入数据，并读取显示

运行结果：

在64引脚封装的STM32L431芯片中，只有ADC只有一个模块，即ADC1

该模块有19个单端通道，其中有三个特殊通道：
- 通道0：对应芯片参考电压引脚VREF
- 通道17：对应内部温度传感器
- 通道18：对应备用电池电源引脚VBAT

实验中需要测试当前温度与芯片内部温度，则对应选择通道15-16,17-18,编程对应使用通道15和17

ADC初始化：

adc_init(ADC_CHANNEL_15,AD_DIFF);//初始化ADC通道15
adc_init(ADC_CHANNEL_TEMPSENSOR,AD_SINGLE);//初始化ADC通道：内部温度

读取A/D转化值

//对应通道15（GEC12、11）则为热敏电阻
num_AD2 = adc_read(ADC_CHANNEL_15);
num_AD3 = adc_read(ADC_CHANNEL_TEMPSENSOR);

将A/D值转为实际温度值

//物理量回归，将对应A/D值转换为实际温度值
curTemp = Regression_Ext_Temp(num_AD2);
mcuTemp = Regression_MCU_Temp(num_AD3);

调用对应函数

printf输出信息

printf("热敏电阻的A/D值：%d\r\n",num_AD2);
printf("内部温度传感器的A/D值：%d\r\n",num_AD3);
printf("当前温度值：%d\r\n",curTemp);
printf("芯片内部温度:%d\r\n\n",mcuTemp);

可观察到芯片内部温度的变化，但由于导热传热较慢，温度变化也就较小

很明显能观察到当前温度从15飙升到32再到42度

松手后温度又回到16 , 说明导热快，温度变化较大