一、双脉冲测试的作用
双脉冲测试，可以获取IGBT或SiC等器件的动态参数，如开通时间，关断时间，Eon，Eoff，Isc等。
二、双脉冲测试基本电路原理
上管始终处于关断状态，只有续流二极管起作用，此处也可用单个二极管代替，二极管的工作过程下文会介绍；下管如图所示接探测工具：高压隔离探头获取Vce，罗氏线圈电流探头取Ic，Vge接方波使下管始终处于开通及关断状态。
三、脉冲波形分析
下管在T0时刻开始开通，电流走向如图所示：
波形如图所示：
这里解释一下Ic的波形产生: I=(U*t)/L，此时电流取决于开通时间，所以电流波形呈现出线性上升的趋势。
下管在T1时刻关断，电流如图所示：
波形如图：此时二极管起续流作用，这里解释一下二极管反向恢复电流的形成过程：当二极管由正向导通转为反向恢复时，二极管需要释放一部分储存的电荷，这时，反向恢复电流与正向导通电流相反，此时，会出现如图所示的电流尖峰。
假如我们延长下管的导通时间，波形会如何？
由于母线寄生电感的存在，且di/dt较大（负反向），根据公式：U=-L*（di/dt）,所以产生电压尖峰
