题目描述
某生产[门电路]的厂商发现某一批次的或门电路不稳定,具体现象为计算两个二进制数的或操作时,第一个二进制数中某两个比特位会出现交换,交换的比特位置是随机的,但只交换这两个位,其他位不变。
很明显,这个交换可能会影响最终的或结果,也可能不会有影响。
为了评估影响和定位出错的根因,工程师需要研究在各种交换的可能下,最终的或结果发生改变的情况有多少种。
输入描述
第一行有一个正整数N; 其中1≤N≤1000000。
第二行有一个长为N的二进制数,表示与电路的第一个输入数,即会发生比特交换的输入数。
第三行有一个长为N的二进制数,表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。
输出描述
输出只有一个整数,表示会影响或结果的交换方案个数。
用例
| 输入 | 3 010 110 |
| 输出 | 1 |
| 说明 | 原本010和110的或结果是110,但第一个输入数可能会发生如下三种交换: 1、交换第1个比特和第2个比特,第一个输入数变为100,计算结果为110,计算结果不变 |
| 输入 | 6 011011 110110 |
| 输出 | 4 |
| 说明 | 原本011011和110110的或结果是111111,但是第一个输入数发生如下比特交换会影响最终计算结果: 1、交换第1个比特和第3个比特,第一个输入数变为110011,计算结果变为110111 2、交换第1个比特和第6个比特,第一个输入数变为111010,计算结果变为111110 3、交换第3个比特和第4个比特,第一个输入数变为010111,计算结果变为110111 4、交换第4个比特和第6个比特,第一个输入数变为011110,计算结果变为111100 其他交换都不会影响计算结果,故输出4. |
原文链接
【华为OD机试 】 出错的或电路(C++ Java JavaScript Python)
C++
#include <iostream>
#include <string>
using namespace std;
int main() {
int n; // 输入的二进制数的位数
string bin1, bin2; // 两个二进制数
cin >> n >> bin1 >> bin2; // 输入 n 和两个二进制数
int cnt0Bin1 = 0, cnt1Bin1 = 0, cnt0Bin2 = 0, cnt1Bin2 = 0; // 统计两个二进制数中 0 和 1 的个数
for (int i = 0; i < n; i++) { // 遍历两个二进制数的每一位
if (bin1[i] == '0') { // 如果 bin1 的该位是 0
cnt0Bin1++; // 统计 bin1 中 0 的个数加 1
if (bin2[i] == '0') cnt0Bin2++; // 如果 bin2 的该位也是 0,统计 bin2 中 0 的个数加 1
} else { // 如果 bin1 的该位是 1
cnt1Bin1++; // 统计 bin1 中 1 的个数加 1
if (bin2[i] == '0') cnt1Bin2++; // 如果 bin2 的该位是 0,统计 bin2 中 1 的个数加 1
}
}
// 计算会影响或结果的交换方案个数
cout << cnt0Bin2 * cnt1Bin1 + cnt1Bin2 * cnt0Bin1 - cnt0Bin2 * cnt1Bin2 << endl;
return 0;
}