一、问题描述
在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。
然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。
通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。
二、处理
1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。
HAL_FLASH_Unlock(); //解锁
__HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
HAL_FLASH_Lock(); //上锁
2.中断里擦除掉出错的扇区
FLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。
void FLASH_IRQHandler(void)
{
HAL_FLASH_IRQHandler();
FLASH_ErrorPro();
}
